經(jīng)濟型顆粒計數(shù)及粒度分析儀

     儀器應(yīng)用庫爾特原理（電子感應(yīng)區(qū)原理），顆粒計數(shù)及粒度分析儀通過顆粒個體體積測量分析整體樣品的粒度分布與顆粒數(shù)目（體積當(dāng)量粒徑），達到一種“三維”和“個體”兼?zhèn)涞臏y量能力，實現(xiàn)可測量顆粒真是的粒徑分布，一次分析即可獲得*的分辨率和高度的準(zhǔn)確性，并且數(shù)目的測量達到zui高度的準(zhǔn)確度預(yù)計性。歷經(jīng)半個多世紀(jì)的考驗，為一致*的粒度儀。亦為一致認可的粒徑分析標(biāo)準(zhǔn)參考方法。