貝克曼庫爾特公司顆粒表征新技術北京講座
貝克曼庫爾特公司
2009年北京“顆粒特性表征技術新進展”講座
美國貝克曼庫爾特公司的顆粒特性表征產品進入中國已經二十多年,技術的不斷發展造就了不凡的影響力,公司的發展有賴于廣大用戶的支持和信賴。
為了提供一個了解顆粒特性表征技術動態和一個交流使用心得的平臺。美國貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門假座北京麗亭華苑酒店,特別舉辦“顆粒特性表征技術新進展”講座,介紹的表征顆粒特性的技術以及潮流的動態。誠邀各領域有興趣的人仕參加。
有興趣參加講座的人士請向貝克曼庫爾特公司市場部索取報名表格,并及時回傳回執。
地點:北京麗亭華苑酒店二層四季廳
地址:北京市海淀區知春路25號
講座:9:30 至12:00; 13:30 至 16:00
午宴:12:00-13:00
主 講:美國貝克曼庫爾特公司
資深應用專家 許人良 博士
內容:
☆ 提高粒徑分析分辨率的解決方案
☆ 新型干粉分散技術
☆ 微量粒子分析技術
☆ 高濃度Zeta電位測量的解決方案
☆ 固液介面穩定性表征方法的新突破
美國貝克曼庫爾特公司
2008年12月8 日
市場部:陳
: ,
,85187188
電子: wchen@beckman.com
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回 執
我單位有興趣參加“顆粒特性表征技術新進展”講座。
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參加人數 人。
(敬請于2008年12月20日前回傳本回執,貝克曼庫爾特公司, )
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