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      *技術-----高濃度ZETA電位分析儀

      點擊次數:3275 更新時間:2007-12-06
                            美國貝克曼庫爾特公司*技術

                ----高濃度ZETA電位分析儀

           納米技術與基因技術、網絡技術一起被并稱為二十一世紀的“三劍客",各國在納米材料的研究上均投入了極大的人力物力。中國已建立3個*的納米研究中心。
          納米顆粒的表征主要集中在粒徑與表面電勢。Zeta電位可以很好地反映顆粒間作用強度,從而可用來預測膠體系統的穩定性。分散體系的Zeta電位會因為Ph值、電導率、添加劑和顆粒表面的變化而改變。
          一直以來,市場上電泳光散射儀器由于采用背散射技術,只能測量稀溶液樣品,不能進行原液或高濃度樣品的測量。因為背散射技術樣品測量時因存在多重散射,而無法獲得足夠的分辨率。顆粒的zeta電位極易因環境影響而改變,簡單稀釋往往會改變zeta電位。測到的結果甚至與原有的zeta電位無關。
          DelsaNano HC 采用的FST技術(透明電極正向散射),很好地解決了由低濃度到高濃度樣品Zeta電位的測量的難題。DelsaNnao高濃度Zeta
      電位分析儀是已知的惟一能夠測量濃縮樣品中微粒zeta電位分布的技術。使
      的Zeta的應用不再受到局限!
          貝克曼庫爾特公司將因推出DelsaNano分析儀而再度于同業!

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